专利名称：

发明

一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统

申请公布号：

CN117852455A

申请公布日：

2024-04-09

申请号：

2023117263198

申请日：

2023-12-15

申请人：

武汉芯必达微电子有限公司,

地址：

430000 湖北省武汉市东湖高新区华翔中心A2栋16楼

发明人：

付惠兰,

分类号：

G06F30/33(2020.01);G06F30/327(2020.01);G06F115/02(2020.01);

专利代理机构：

南京纵横知识产权代理有限公司 32224

代理人：

毕琼

最终专利权人：

摘要：

本发明公开一种ADC模块自动化芯片验证方法及系统，方法包括：在Emulation阶段，先通过设置特殊内存区域的方式对待测ADC模块进行数字逻辑验证；再通过外接ADC芯片对待测ADC模块进行通路验证；在Verify阶段，通过自动控制待测ADC模块的模拟输入实现自动化验证。本发明通过在Emulation阶段引入数字逻辑验证和通路验证，来减少验证风险、减小验证成本，并通过在Verify阶段控制ADC模块的模拟输入电压实现自动化验证，来提高验证效率。

权利要求书：

1.一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，包括：在Emulation阶段，先通过设置特殊内存区域的方式对待测ADC模块进行数字逻辑验证；再通过外接ADC芯片对待测ADC模块进行通路验证；在Verify阶段，通过自动控制待测ADC模块的模拟输入实现自动化验证。2.根据权利要求1所述一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，所述特殊内存区域设置于芯片的存储区内，在验证时激活，在验证结束后擦除。3.根据权利要求2所述一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，所述数字逻辑验证，还包括：向所述特殊内存区域写入输入数据；读取所述输入数据经硬件平均、校准及偏移后的输出数据；将读取的输出数据与写入的输入数据进行对比，并根据对比结果实现数字逻辑验证。4.根据权利要求2所述一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，所述数字逻辑的功能组合测试方法和测试次数根据待测ADC模块的数字逻辑功能及可选参数范围来调整。5.根据权利要求2所述一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，所述通路验证，还包括：利用外接ADC芯片采集外部设备的实际电压或电流值，并将所述电压或电流值转换为预设精度的数字值；待测ADC模块根据所述数字值调整PWM信号的输出，进而控制外部设备的操作，以验证待测ADC模块的通路。6.根据权利要求5所述一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，在得到预设精度的数字值后，还包括：通过预设数量的GPIO接口将所述数字值传输给待测ADC模块，其中，所述GPIO接口的预设数量的值等于数字值的预设精度的值。7.根据权利要求5所述一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，利用外接ADC芯片采集外部设备的实际电压或电流值前，还包括：通过PWM信号触发待测ADC模块，由所述待测ADC模块通过SPI接口控制外接ADC芯片进行采集。8.根据权利要求1所述一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，所述待测ADC模块的模拟输入来源于：外接DAC芯片输出的模拟电压信号，外接可编程模拟输出器件输出的模拟电压信号，或者通过脉宽信号控制RC滤波输出的模拟电压信号。9.根据权利要求8所述一种ADC模块自动化芯片验证方法，其特征在于，通过自动控制待测ADC模块的模拟输入实现自动化验证，还包括：控制输入不同的模拟电压信号；对所述模拟电压信号进行ADC模拟采样、ADC转换、硬件平均、校准及偏移后，输出采样数据；将所述采样数与输入的模拟电压信号进行对比，验证待测ADC模块的功能是否正常。10.一种ADC模块自动化芯片验证系统，其特征在于，包括：上位机，用于在Emulation阶段，读取待测ADC模块输出的采样数据，并将所述采样数据与写入特殊内存区域的输入数据进行对比，以确认待测ADC模块的数字逻辑功能是否正常；在Emulation阶段，读取待测ADC模块输出的采样数据，并根据所述采样数据控制外部设备操作，以确认待测ADC模块的通路是否正常；以及在Verify阶段，读取待测ADC模块输出的采样数据，并将所述采样数据与控制输入的模拟电压信号进行对比，以确认待测ADC模块的功能是否正常；外接ADC芯片，用于在Emulation阶段采集外部设备的电压或电流信号并传输给待测ADC模块；外接模拟电压信号输出模块，用于在Verify阶段输出可调的模拟电压信号给待测ADC模块。

主视图

日期	最新法律状态	描述
2024-04-09	公开	公开