专利名称：

发明

并列测试及烧录系统中读取半导体晶元资料之方法

终止

申请公布号：

CN1484835A

申请公布日：

2004-03-24

申请号：

01821651X

申请日：

2001-12-04

申请人：

因芬尼昂技术里奇蒙有限合伙人公司,

地址：

美国弗吉尼亚州

发明人：

K·J·怀特,M·D·欧班克斯,

专利代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

吴立明,梁永

最终专利权人：

因芬尼昂技术里奇蒙有限合伙人公司

摘要：

本发明给芯片辨识熔丝数下了定义(108)。一测试模式系因正被测试的特殊芯片设计而被引发，进而造成该等芯片输出其芯片辨识(109)。该芯片辨识系依序被输出，一直到所有熔丝都已被取样。一第一芯片辨识位(对每个被测试的芯片而言)系被取样自该序列输出，并且被用以与一预期资料(110)做比较。所得到的结果信息被转译成(如上所述)一通过或是一失败且被储存于一数据库(112)。此方法系为循环以致于芯片辨识上的每

日期	最新法律状态	描述
2010-02-03	专利权的终止
2008-03-12	授权
2004-06-02	实质审查的生效
2004-03-24	公开